“2017年極端環境微納電子器件可靠性國際研討會”于5月22 —24日在四川省成都市舉行。200余位國內外專家學者齊聚一堂，共同探討極端環境下微納電子器件可靠性領域的最新研究結果。
本次會議由微電子所主辦，電子科技大學、四川大學、國家自然科學基金委、中德科學中心、四川省成都市雙流區政府、四川省豆萁科技股份有限公司等協辦，議題包括微納電子器件可靠性設計、失效物理研究，器件損傷效應和機理研究，加固技術設計和評價等。微電子所劉明院士擔任大會主席。
劉明在大會開幕式上致辭并做了《非易失性存儲器的可靠性問題與優化技術》的主題報告。德國慕尼黑技術大學Ulf Schlichtmann教授、西北核技術研究所陳偉研究員，中國航天科技集團趙元富研究員，美國范德堡大學Dan Fleetwood教授，亞琛工業大學Ilia Valov教授等5名大會演講嘉賓分別作了《如何在設計自動化中處理軟件錯誤：跨層方法和普通技術》、《中子誘發單粒子事件在大規模集成電路中的影響》、《單粒子事件效應與納米級CMOS集成電路加固技術》、《GaN/AlGaN高電子遷移率晶體管的輻射效應、1/f噪聲和可靠性》、《基于氧化還原的憶阻器件：基本流程和新見解》學術報告。
大會設置了5個分會場，分別圍繞電子器件可靠性（新型器件、缺陷、物理機制和建模仿真等）、可靠性設計（材料級、工藝級、器件級、電路級、系統級）、極端環境下的損傷效應和優化技術、充放電效應和靜電防護、失效表征和分析等議題展開研討。來自美國、法國、英國、德國、意大利、中國等國的33名可靠性領域產學研界專家作口頭邀請報告，58名學者作口頭報告。大會展示了68份大會海報，得到了參會者的強烈關注。微電子所段遠、西北核技術研究所潘霄宇和美國范德堡大學江蓉被大會評選為“最佳學生論文獎”。
本次會議為國內外極端環境微納電子器件可靠性領域的專家學者提供了學術交流平臺，為高校、研究所以及相關領域企業的工程師、研究生提供了全面深入學習微納電子器件可靠性最新進展和了解器件可靠性前沿發展趨勢的機會。
大會合影
劉明院士作大會報告
大會現場
“最佳學生論文獎”頒獎
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